Die Studierenden lernen Grundlagen und Anwendungen moderner Rastersonden- und Elektronenmikroskopietechniken zur Untersuchung von Nanomaterialien.
Prinzipien und Arbeitsweise von Rastertunnel-Mikroskopie, Rasterkraft-Mikroskopie, Oberflächen-Potenzial-Mikroskopie, Electric-Force- Mikroskopie, Reibungsmikroskopie und Transmissionselektronenmikroskopie
Vorlesung
mündlich
Wird im Rahmen der ersten Lehrveranstaltung besprochen.
Die Teilnehmer erhalten nach Anmeldung weitere Informationen per email.
